HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY AND TOPOGRAPHY

TAYLOR & FRANCIS LTD

HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY AND TOPOGRAPHY

BRIAN K. TANNER / D.K. BOWEN

Año edición: 05-02-1998

Colección:

EAN: 9780850667585

Idioma: INGLES

Situación im.bajo demanda

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